日研究人员发现日光过敏症致病基因

　　新华网东京4月2日电（记者蓝建中）日本一个研究小组2日宣布，他们发现紫外线敏感性综合征的一个致病基因，这一发现将有助于今后弄清人的皮肤被晒伤的机制，从而研究出相关防晒伤的新方法。该成果已刊登在《自然·遗传学》杂志网络版上。

　　日本长崎大学和佳丽宝公司的联合研究小组在东京宣布，这项研究开展于2010年7月，他们通过利用能在短时间内对人类基因组DNA序列进行解析的最新技术下一代基因序列解析法，确定了一个可能是紫外线敏感性综合征患者致病原因的基因变异。研究人员发现，由于这个基因出现变异，导致无法产生对受损的DNA进行快速修复的蛋白质，或者产生的量非常少，研究小组将这种基因命名为UVSSA。研究人员对紫外线敏感性综合征患者进行基因修复后，肌体对DNA进行快速修复的功能恢复到了与健康人同等的水平。

　　研究人员高桥庆人指出，紫外线敏感性综合征除了强烈日晒症状外基本没有其他症状，是一种轻度的遗传性光敏性疾病，发现30多年来其致病原因一直未解。今后通过对该基因进行详细分析，将有助于开发出防止皮肤被晒伤的新方法。

　　作者：蓝建中