电子零组件实验室 图源：华南检测中心
在电子元器件失效分析技术与检测流程中，超声波扫描技术发挥着至关重要的作用。这项技术类似于医疗领域的B超检查，为电子元器件提供了深入的“透视”能力，能够精确探测其内部结构中的多种异常现象，如分层、裂缝、空洞、硅片倾斜以及外来杂质等。
超声波扫描显微镜技术概述
英文名称为Scanning Acoustic Microscope，简称SAM，或因其常用的C模式工作模式而被称为C-SAM或SAT。它利用频率高于20KHz的超声波进行无损检测，作为一种高效的检测手段，广泛应用于工厂的电子物料检测（IQC）、电子元器件失效分析（FA）、质量控制(QC)、质量保证及可靠性评估(QA/REL)、以及研发(R&D)等多个领域。通过声波扫描并对比图像对比度，该技术能够识别材料内部的声阻抗差异，从而准确判断缺陷的形状、尺寸及位置，有效检测电子元器件、LED、金属基板等中的分层、裂纹等潜在问题。
超声波扫描显微镜的测试方法
主要分为脉冲回波法和透射式两种：
- 脉冲回波法：该方法利用反射波成像原理，能够聚焦于特定层，从而判断缺陷的深度。在使用时，需注意区分元器件的正反面。脉冲回波法包含A-Scan、C-Scan、B-Scan三种模式：
- A-Scan：A-扫描方式，Inspection with waveform displayedon oscilloscope，通过示波器显示检测波形，并对比波形来判断分层位置。
- B-Scan：B-扫描方式，Inspection with verticallyx-sectioned 2-d image，提供垂直方向的二维截面图，分层位置的反射截面图相较于未分层位置更为明亮。
- C-Scan：C-扫描方式，Inspection with horizontallyx-sectioned 2-d image，检测水平方向的二维截面图，能够扫描并清晰呈现多层图片，聚焦位置的图像相对较为清晰。
图源：电子零组件实验室
- 透射式：该方法利用透射波成像原理，能够一次性扫描所有被检测界面，验证脉冲反射成像的结果。透射式测试方法称为T-Scan：
- T-Scan：T-扫描方式，Inspection with transmitted signal，通过检测透射信号，利用透射模式声扫图来显示内部结构的分层情况。
超声波扫描显微镜的应用领域
- 破坏性物理分析与失效分析：超声波扫描技术作为关键步骤，结合X-ray观察，开封，切片分析，电镜扫描，用于确认料件内部是否存在分层等缺陷。
- 可靠度验证：在可靠度实验中，超声波扫描技术用于评估预处理项目对样品内部结构的影响，如芯片分层或支架分层等。
- 质量检测：在塑封料件的制造工艺中，超声波扫描技术能够鉴定焊接不良、芯片贴歪、空洞等质量问题。
- 真假料件辨别：超声波扫描技术能够清晰扫描出料件的每一层结构，通过对比两类料件的结构差异，有效辨别真假料件。
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目前，超声波扫描测试技术已广泛应用于集成电路、片式多层瓷介电容器（MLCC）等领域的批量测试中。随着技术的不断革新和应用需求的日益提升，超声波扫描测试技术正朝着更高精度、更高分辨率、数字化、图像化、自动化以及智能化的方向持续发展。
超声波扫描显微镜测试机构
作为专业电子零组件实验室，总部富士康华南检测中心，法人优尔鸿信检测技术（深圳）有限公司，成立于1996年，配合高科技电子产品设计、验证、生产过程中的检测需求组建科技实验室，创始团队汇集科技精英、凭借雄厚的技术背景和开拓创新精神，为全球科技品牌商及中小企业，提供基于原料检测、供应商产品质量测评、生产质量控制、仪器设备校准、研发可靠性检测评价、市场准入质量检测合格评定、产品质量异常分析等第三方的实验室技术服务支持。
超声波扫描技术在电子元器件检测中扮演重要角色，但具体应用需依据样品特性。该技术利用高频超声波进行无损检测，能发现内部缺陷。然而，因电子元器件材质、结构各异，检测需求不同，故建议就近咨询专业检测机构或技术专家。他们拥有先进设备及丰富经验，能制定合适检测方案，确保结果准确可靠。对于实际样品检测，专业建议至关重要，有助于评估样品质量、可靠性，为后续改进提供有力支持。返回搜狐，查看更多
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