据上海交通大学日前通报，该校微电子学院院长、汉芯科技有限公司总经理陈进，在负责研制“汉芯”系列芯片过程中存在严重造假和欺骗行为，决定撤销陈进微电子学院院长职务，解除其教授聘用合同。同时，国家科技部、教育部和发改委也分别作出决定，终止陈进负责的科研项目的执行，追缴相关科研经费。(5月13日《新京报》)

　　这是一起中国版的“黄禹锡事件”。在造假真相败露之前，陈进是近年来国内大红大紫的科技精英、创新先锋，头顶着“长江学者”、“政府特殊津贴获得者”等无数耀眼的光环，是多个国家级科研项目的带头人，获得了科技部、教育部、发改委的大量科研资助。所有这些，都是因为他负责的汉芯团队研制出了“汉芯”系列芯片，在长达3年多的时间里，陈进以“汉芯”欺世盗名，竟一直严丝合缝、滴水不漏、欺上瞒下至今，不能不让人深思。

　　陈进导演的这个弥天大谎，欺骗了鉴定专家、上海交大、研究团队、地方政府和中央有关部委，欺骗了媒体和公众。而追根溯源，这个弥天大谎是从“专家鉴定”开始的，陈进首先欺骗了鉴定专家，才可能进而欺骗了学校、政府和公众。我们有必要追问，当初专家们是如何鉴定“汉芯”系列芯片的？为何那么多专家一次次鉴定竟都没有识破“汉芯”的造假问题？虽然我们没有根据认为鉴定专家与陈进“合谋”了这个弥天大谎，但我们有理由认为，专家们在鉴定“汉芯”之时，存在着走过场、把关不严、浮光掠影、人云亦云等不负责任问题，正是这种不负责任导致的鉴定失误，才使得“汉芯”一路畅通无阻欺上瞒下，给国家造成了损失，让科技界为之蒙羞。因此我们进而要追问，是哪些专家参与了“汉芯”的鉴定，他们要为鉴定失误承担何种责任？

　　科研成果鉴定走过场、把关不严，是我国科技界长期存在的一大顽症，你好我好大家好，谁也不愿撕破脸皮不给对方面子。而一旦鉴定失误，参与鉴定的人员却从不必为此承担任何责任，鉴定者有权而无责，科研鉴定不走过场才怪！陈进科研造假败露，竟然缘于一个举报人的举报，而不是缘于专家的鉴定，这本身就具有强烈的讽刺意味。从一定意义上说，陈进造假事件是科研鉴定走过场的必然“产物”，如果以后的科研鉴定仍然走过场，那么就还会出现第二个、第三个陈进。

　　如果更深一步分析就会发现，陈进之所以能靠虚假科研成果欺世盗名，与我国科技事业的“发展焦虑”不无关系。越来越强大的中国急需向世界证明中国科技的辉煌成就，建立创新型国家急需科技界拿出振奋人心的科研成果，于是，像“汉芯”这样长中国人志气、给国人争光的科研“成果”一经问世，便引来万人瞩目、八方欢呼，在这种欢欣鼓舞的氛围之下，谁也不愿意、不忍心泼冷水、唱反调，没有耐心冷静下来探究这项“成果”存在的缺陷和问题。于是，陶醉于欢欣鼓舞氛围之中的上海交大、地方政府乃至中央部委，很容易就被一一“欺骗”了。

　　科学来不得半点虚假和急功近利，科学研究要脚踏实地、一步一个脚印，纵然在建立创新型国家的今天，我们仍不要忘记这个最基本的道理。这也许是陈进科研造假事件给予我们的最重要警示。

　　来源： 华龙网 2006-05-19 03:19